3.1 電子・電気関連

 電子・電気関連分野で使用されている電子応用計測システムに限ってみると、それらは半導体産業や情報通信産業、及び光エレクトロニクス産業等で特に多く目にすることができる。これらの産業において、特定の半導体デバイスや製品分野にまで対象を限定し、そこで要求される幾つかの固有の測定・評価項目を一台の装置で実行できるようにカスタマイズされた電子応用計測器、更には一括して自動的に一連の測定・評価項目を実行できる様に、計測器以外の必要な装置、特にパソコン或いはワークステーション等のコントローラとセットで(或いはそれらを組み込んで)開発された装置がここで紹介すべき電子応用計測システムである。一般的に、ここで紹介する装置の例からも明らかなように、装置の名称から測定・評価の対象となる製品分野が明らかになる場合が多い。

 電子・電気関連分野においては、この様な装置は早くから電気量・磁気量の自動計測システムとして、他の分野に先んじて出現していたが、最近では、電子・電気関連分野の範疇ではあっても、電気量・磁気量以外の計測の自動化も望まれるようになってきた。
 1980年代後半から開発が盛んになってきた光エレクトロニクス産業では、光の放射特性や偏向依存性等といった各光部品に特有な光学的特性の計測・評価が必要となり、光産業の成長に伴ってそれらを自動化する必要性も増大し、光計測技術を応用した様々な電子応用計測システムが開発されてきた。光計測を応用した計測システムは、光を使用した電気量・磁気量計測という形でも登場しており、半導体産業における各種の非接触・非破壊計測システム等にその例を見ることができる。

 また同じ頃、人間の目に代わる電子デバイスとして、CCD等の比較的安価な固体撮像素子が登場し始めると、画像処理技術の進歩と並行して、それまで主に人間が目視で行なっていた評価・検査項目の自動化も促進されるようになった。例えば製品の外観検査や電子ディスプレイの表示検査であり、更には撮像素子自身の検査等もこれに含まれる。即ち、電子・電気関連分野に視覚という感覚量の電子応用計測システムが数多く登場し始めた訳である。1990年代に入って液晶ディスプレイの開発・製造が盛んになると、これらはさらに重要性を増し、カスタマイズされたものが登場してきた。

 本品目に含まれるシステムは、電子・電気関連産業の多方面にわたる非常に多くの種類の電子応用計測システムが開発されているが、主に
 半導体関連
 情報通信機器関連
 メカトロニクス関連
 光エレクトロニクス関連
などがあげられる。